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  • 品名： 激光粒度儀
  • 所屬欄目： 粉體（tǐ）檢測
  • 描述： GX--J2000型激光粒度儀是一種新型（xíng）的粒度測試儀器（qì），通過顆粒的衍射或散射光的空間分布(散射譜)來分析顆粒（lì）大小的儀器，采（cǎi）用Furanhofer衍射及Mie散射理論，測試過程不受溫度變化、介質（zhì）黏度，試樣密度及表麵狀態等（děng）諸多因素的影響，隻要將（jiāng）...
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產品簡介

GX--J2000型激（jī）光粒度儀（yí）是一種新（xīn）型的粒度測試儀器，通過顆粒的衍射或散射光的空（kōng）間分（fèn）布(散射譜)來分析顆粒大小的儀器，采用Furanhofer衍（yǎn）射及Mie散射理論，測試過（guò）程不受溫度變化、介（jiè）質黏度，試樣密度及表麵狀態等諸（zhū）多因素的影響（xiǎng），隻要將待測樣品均勻地展現於激光束中，即可獲得準確的測試結（jié）果。它具有準確可靠、測試速度（dù）快、測試範圍寬、重複性和真（zhēn）實性好（hǎo）、操作簡（jiǎn）便等突出特點。

 

應用（yòng）領域（yù）

建材、化工、冶金、能源、食品、電子（zǐ）、地質、軍工、航空航天（tiān）、機械、高校、實驗室，研究機構等。


 
 
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